0 ratings
Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)
Vare #: 21176075

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

Vare #: 21176075

DKK 1063

Prisdetaljer

Eksklusive forsendelses- og toldgebyrer ( Forsendelses- og toldgebyrer beregnes ved checkout )

*Alle varer importeres fra US

På lager
US Importeret fra USA butik

QTY:

Bestil nu og få den omkring Onsdag, Oktober 14
Vores bedste logistikpartnere
  • fedex
  • dhl
Vis mere
U-Pleje garanti:
Ingen
Vælg en plan
fast shipping

Hurtig
levering

free return

Gratis
returnering*

Sikker emballering

Sikker emballering

100 % originale produkter'

100 % originale produkter'

pci-dss

PCI DSS Compliance

iso certified

ISO 27001 Certified


paypal payment
visa payment
mastercard payment
Note: Step Down Voltage Transformer required for using electronics products of US store (110-120). Recommended power converters Køb nu.

Produktdetaljer

Find the latest developments in the field of Semiconductor Material and Device Characterization. Shop from Ubuy Faroe Islands, a Faroe Islands for all your needs.
  • This Third Edition updates a landmark text with the latest findingsThe Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques.Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including:Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topicsNew problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the materialIn addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter.Plus, two new chapters have been added:Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy.Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge.Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials.An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.
Publisher Wiley-IEEE Press
Publication date June 29, 2015
Edition 3rd
Language English
Print length 800 pages
ISBN-10 0471739065
ISBN-13 978-0471739067
Item Weight 2.11 pounds (960 grams)
Dimensions 6.4 x 2 x 9.4 inches (16.3 x 5.1 x 23.9 cm)

Produktbeskrivelse

Semiconductor Material and Device Characterization (IEEE Press)

Har du spørgsmål? Chat med os

Kundespørgsmål og svar

  • spørgsmål: Hvordan shopper man Semiconductor Material and Device Characterization online fra Ubuy?

    svar: Det er nemt at shoppe Semiconductor Material and Device Characterization online fra Ubuy.. Du skal bare søge efter produktet, vælge din forsendelsesmetode, mens du tjekker ud og få det leveret til dit sted.
  • spørgsmål: Er Semiconductor Material and Device Characterization tilgængelig til at handle online i Faroe Islands?

    svar: Ja, hos Ubuy Faroe Islands er dette produkt tilgængeligt, så du kan handle til en rimelig pris.. Semiconductor Material and Device Characterization er ikke tilgængelig lokalt, men du kan stole på os med vores ekspresforsendelsestjenester.
  • spørgsmål: Hvor lang tid tager det at få produktet efter at have afgivet ordren?

    svar: Leveringstiden for dit bestilte produkt varierer alt efter, hvad du har bestilt, og den forsendelsesmetode, du har valgt.. Den estimerede leveringstid er nævnt under købsprocessen, så vær ubekymret, mens du handler.

Semiconductors Editorial Review

Ingen redaktionelle anmeldelser fundet

Kundeanmeldelser & vurderinger

4.6
32 kundebedømmelser
  • 5 stjerne
    86%
  • 4 stjerne
    7%
  • 3 stjerne
    0%
  • 2 stjerne
    0%
  • 1 stjerne
    7%

Anmeld dette produkt

Del dine tanker med andre kunder

Produktets prishistorik

Vigtig information

  • Begrænsninger: For produkter, der forsendes internationalt, bemærk venligst, at eventuel producentgaranti muligvis ikke er gyldig; producentens serviceordninger er muligvis ikke tilgængelige; produktmanualer, instruktioner og sikkerhedsadvarsler er muligvis ikke på destinationslandets sprog; produkterne (og det medfølgende materiale) er muligvis ikke designet i overensstemmelse med destinationslandets standarder, specifikationer og mærkningskrav; og produkterne opfylder muligvis ikke destinationslandets krav til spænding og andre elektriske standarder (hvilket kan kræve brug af en adapter eller transformer, hvis relevant). Modtageren er ansvarlig for at sikre, at produktet lovligt kan importeres til destinationslandet. Ved bestilling hos Ubuy eller dets datterselskaber er modtageren importøren og skal overholde alle love og regler i destinationslandet.
  • Det er ikke alle de produkter som vises på Ubuy som er til salg, idet Ubuy er en global søgemaskine. Produkterne er underlagt eksport-/handelsregler.